微觀譜圖分析 ? 組成元素分析
定性定量分析 ? 組成成分分析
性能質(zhì)量 ? 含量成分
爆炸極限 ? 組分分析
理化指標(biāo) ? 衛(wèi)生指標(biāo) ? 微生物指標(biāo)
理化指標(biāo) ? 微生物指標(biāo) ? 儀器分析
安定性檢測(cè) ? 理化指標(biāo)檢測(cè)
產(chǎn)品研發(fā) ? 產(chǎn)品改善
國(guó)標(biāo)測(cè)試 ? 行標(biāo)測(cè)試
中析研究所檢測(cè)中心
400-635-0567
中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
公司地址:
北京市豐臺(tái)區(qū)航豐路8號(hào)院1號(hào)樓1層121[可寄樣]
投訴建議:
010-82491398
報(bào)告問(wèn)題解答:
010-8646-0567
檢測(cè)領(lǐng)域:
成分分析,配方還原,食品檢測(cè),藥品檢測(cè),化妝品檢測(cè),環(huán)境檢測(cè),性能檢測(cè),耐熱性檢測(cè),安全性能檢測(cè),水質(zhì)檢測(cè),氣體檢測(cè),工業(yè)問(wèn)題診斷,未知成分分析,塑料檢測(cè),橡膠檢測(cè),金屬元素檢測(cè),礦石檢測(cè),有毒有害檢測(cè),土壤檢測(cè),msds報(bào)告編寫(xiě)等。
發(fā)布時(shí)間:2025-05-13
關(guān)鍵詞:光伏老化測(cè)試結(jié)果檢測(cè)方法,光伏老化測(cè)試結(jié)果檢測(cè)周期,光伏老化測(cè)試結(jié)果檢測(cè)案例
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來(lái)源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托,望見(jiàn)諒。
光伏組件老化測(cè)試包含六大核心檢測(cè)模塊:
光致衰減測(cè)試(LID):評(píng)估初始光照后輸出功率的不可逆損失率
濕熱老化測(cè)試(DH):模擬高溫高濕環(huán)境下封裝材料與電池片的失效模式
紫外線預(yù)處理試驗(yàn)(UV):驗(yàn)證聚合物材料在紫外輻射下的抗老化性能
溫度循環(huán)測(cè)試(TC):檢測(cè)-40℃至85℃極端溫差下的結(jié)構(gòu)完整性
機(jī)械載荷測(cè)試(ML):施加5400Pa壓力驗(yàn)證組件框架與玻璃的承載能力
電勢(shì)誘導(dǎo)衰減測(cè)試(PID):評(píng)估高壓偏置條件下的絕緣失效風(fēng)險(xiǎn)
本檢測(cè)體系適用于以下對(duì)象:
組件類型 | 材料構(gòu)成 | 應(yīng)用場(chǎng)景 |
---|---|---|
單晶硅組件 | EVA/POE封裝膠膜 | 屋頂分布式電站 |
多晶硅組件 | TPT/TPE背板材料 | 地面集中式電站 |
薄膜組件 | 鋼化玻璃/聚合物前板 | 建筑一體化光伏(BIPV) |
雙玻組件 | 鋁合金邊框/無(wú)框結(jié)構(gòu) | 高鹽霧沿海地區(qū) |
柔性組件 | PET基板/有機(jī)硅封裝 | 移動(dòng)能源設(shè)備 |
在STC條件下測(cè)量初始最大功率Pmax0
使用AAA級(jí)太陽(yáng)模擬器進(jìn)行48小時(shí)連續(xù)輻照(1000W/m2)
每6小時(shí)記錄IV曲線與EL成像數(shù)據(jù)
計(jì)算功率衰減率δ=(Pmax0-Pmax1)/Pmax0
依據(jù)IEC 62804-1判定衰減閾值是否超過(guò)3%限值
溫濕度條件:85℃±2℃ / 85%RH±5%RH
持續(xù)時(shí)間:1000小時(shí)(等效25年濕熱環(huán)境暴露)
中間檢查節(jié)點(diǎn):250h、500h進(jìn)行外觀檢查與絕緣電阻測(cè)試
失效判據(jù):氣泡面積>5%、絕緣電阻<40MΩ·m2
正壓/負(fù)壓加載速率:≤50Pa/s
保載時(shí)間:60±5分鐘
核心檢測(cè)設(shè)備技術(shù)參數(shù)表 | ||
---|---|---|
設(shè)備名稱 | 技術(shù)指標(biāo) | 功能說(shuō)明 |
A級(jí)太陽(yáng)模擬器 (AAA Class Solar Simulator) | - 光譜匹配度AM1.5G±25% - 輻照不均勻度≤2% - 瞬態(tài)穩(wěn)定性±1% | - IV曲線掃描 - 最大功率點(diǎn)跟蹤 - 光衰效應(yīng)量化分析 |
(Temperature Humidity Chamber) | ||
(UV Aging Test Chamber) | ||
(Mechanical Load Tester) | ||
(Electroluminescence Imaging System) | - PID效應(yīng)可視化分析 - 電池片失效模式診斷 |
1、咨詢:提品資料(說(shuō)明書(shū)、規(guī)格書(shū)等)
2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求
3、填寫(xiě)檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門(mén)取樣/檢測(cè))
5、收到樣品,安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)
6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù),編寫(xiě)報(bào)告草件,確認(rèn)信息是否無(wú)誤
7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件
8、寄送報(bào)告原件