微觀譜圖分析 ? 組成元素分析
定性定量分析 ? 組成成分分析
性能質(zhì)量 ? 含量成分
爆炸極限 ? 組分分析
理化指標(biāo) ? 衛(wèi)生指標(biāo) ? 微生物指標(biāo)
理化指標(biāo) ? 微生物指標(biāo) ? 儀器分析
安定性檢測(cè) ? 理化指標(biāo)檢測(cè)
產(chǎn)品研發(fā) ? 產(chǎn)品改善
國(guó)標(biāo)測(cè)試 ? 行標(biāo)測(cè)試
中析研究所檢測(cè)中心
400-635-0567
中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
公司地址:
北京市豐臺(tái)區(qū)航豐路8號(hào)院1號(hào)樓1層121[可寄樣]
投訴建議:
010-82491398
報(bào)告問(wèn)題解答:
010-8646-0567
檢測(cè)領(lǐng)域:
成分分析,配方還原,食品檢測(cè),藥品檢測(cè),化妝品檢測(cè),環(huán)境檢測(cè),性能檢測(cè),耐熱性檢測(cè),安全性能檢測(cè),水質(zhì)檢測(cè),氣體檢測(cè),工業(yè)問(wèn)題診斷,未知成分分析,塑料檢測(cè),橡膠檢測(cè),金屬元素檢測(cè),礦石檢測(cè),有毒有害檢測(cè),土壤檢測(cè),msds報(bào)告編寫(xiě)等。
發(fā)布時(shí)間:2025-05-13
關(guān)鍵詞:太陽(yáng)能EL項(xiàng)檢測(cè)報(bào)價(jià),太陽(yáng)能EL試驗(yàn)儀器,太陽(yáng)能EL檢測(cè)機(jī)構(gòu)
瀏覽次數(shù):
來(lái)源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托,望見(jiàn)諒。
EL檢測(cè)聚焦光伏組件內(nèi)部缺陷的定性定量分析,核心項(xiàng)目包括:
隱裂識(shí)別:通過(guò)發(fā)光強(qiáng)度差異定位硅片微裂紋形態(tài)及分布密度
斷柵分析:檢測(cè)主柵/細(xì)柵線(xiàn)斷裂導(dǎo)致的電流收集效率衰減
黑斑診斷:識(shí)別PID效應(yīng)、雜質(zhì)污染或燒結(jié)異常引起的局部暗區(qū)
焊接缺陷:判定電池片互聯(lián)焊帶虛焊/過(guò)焊導(dǎo)致的接觸不良
邊緣失效:評(píng)估組件封裝邊緣區(qū)域EVA脫層或水汽滲透影響
EL技術(shù)適用于全品類(lèi)光伏組件質(zhì)量管控:
材料維度:?jiǎn)尉Ч?多晶硅/PERC/TOPCon/HJT電池組件及薄膜組件
工藝階段:電池片分選→組件封裝→層壓后終檢→出廠(chǎng)前抽檢
應(yīng)用場(chǎng)景:電站進(jìn)場(chǎng)驗(yàn)收→運(yùn)維期故障排查→回收組件殘值評(píng)估
功率覆蓋:滿(mǎn)足5W微型組件至700W+大尺寸組件的成像需求
標(biāo)準(zhǔn)EL檢測(cè)流程包含以下關(guān)鍵步驟:
暗室準(zhǔn)備:搭建≤5Lux照度的密閉環(huán)境,消除環(huán)境光干擾
參數(shù)設(shè)定:依據(jù)組件規(guī)格設(shè)定0.8-1.2倍Isc的注入電流值
偏置加載:采用恒流源正向偏置組件持續(xù)10-30秒達(dá)到穩(wěn)定發(fā)光狀態(tài)
典型EL檢測(cè)系統(tǒng)由以下模塊構(gòu)成:
科學(xué)級(jí)CCD相機(jī)(量子效率≥70%@900nm)
1、咨詢(xún):提品資料(說(shuō)明書(shū)、規(guī)格書(shū)等)
2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求
3、填寫(xiě)檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門(mén)取樣/檢測(cè))
5、收到樣品,安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)
6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù),編寫(xiě)報(bào)告草件,確認(rèn)信息是否無(wú)誤
7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件
8、寄送報(bào)告原件