因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托，望見(jiàn)諒。

檢測(cè)項(xiàng)目

初始余輝亮度、余輝衰減時(shí)間常數(shù)、激發(fā)波長(zhǎng)響應(yīng)范圍、發(fā)射光譜半峰寬、色坐標(biāo)偏移量、熱釋光特性、化學(xué)穩(wěn)定性測(cè)試、晶體結(jié)構(gòu)分析、粒徑分布測(cè)定、表面形貌表征、量子效率計(jì)算、光通量維持率、環(huán)境溫度適應(yīng)性（-40℃~85℃）、濕度耐受性（RH30%~95%）、紫外老化試驗(yàn)、鹽霧腐蝕測(cè)試、振動(dòng)疲勞試驗(yàn)、輻照劑量響應(yīng)特性、余輝亮度均勻性、激發(fā)光源兼容性（UV/LED/自然光）、衰減曲線(xiàn)擬合度分析、元素?fù)诫s濃度測(cè)定、晶格缺陷密度評(píng)估、二次電子產(chǎn)額測(cè)量、熱導(dǎo)率測(cè)試、氧化還原穩(wěn)定性驗(yàn)證、光致發(fā)熱效應(yīng)監(jiān)測(cè)、表面電荷積累量測(cè)定、余輝重現(xiàn)性驗(yàn)證（100次循環(huán)）、暗適應(yīng)恢復(fù)時(shí)間。

檢測(cè)范圍

稀土摻雜鋁酸鹽體系熒光材料（SrAl?O?:Eu,Dy）、硅酸鹽基長(zhǎng)余輝材料（Ca?MgSi?O?:Eu,Nd）、氮氧化物熒光體（SrSi?O?N?:Eu）、硫化物體系（ZnS:Cu,Co）、鈦酸鹽基材料（CaTiO?:Pr）、應(yīng)急標(biāo)識(shí)用熒光涂料、夜光陶瓷釉料、光致發(fā)光道路標(biāo)線(xiàn)材料、安全出口指示牌涂層、儀表盤(pán)夜視材料、紡織物蓄光纖維、塑料母粒添加劑、生物成像示蹤劑、文物修復(fù)補(bǔ)光材料、深海探測(cè)標(biāo)記物、光伏組件自發(fā)光層、航空航天儀表涂層、核輻射探測(cè)熒光體、3D打印夜光耗材、汽車(chē)內(nèi)飾夜光件、鐘表指針涂料、軍事偽裝材料、建筑逃生系統(tǒng)導(dǎo)光帶、水下傳感器標(biāo)記物、智能包裝防偽層、X射線(xiàn)存儲(chǔ)熒光板、文物修復(fù)補(bǔ)光材料、光伏組件自發(fā)光層。

檢測(cè)方法

分光光度法：采用配備積分球的分光輻射計(jì)（波長(zhǎng)范圍380-780nm）測(cè)量發(fā)射光譜特性，積分時(shí)間設(shè)定為1ms-10s可調(diào)。

時(shí)間分辨光譜法：使用微秒級(jí)時(shí)間門(mén)控ICCD相機(jī)記錄激發(fā)停止后的動(dòng)態(tài)衰減過(guò)程，建立指數(shù)衰減模型計(jì)算τ1/τ2值。

熱釋光分析：在程序控溫爐（升溫速率1℃/s）中測(cè)量陷阱能級(jí)分布特征，結(jié)合TLglow曲線(xiàn)解析活化能參數(shù)。

XRD結(jié)構(gòu)表征：采用Cu-Kα輻射源（λ=0.15406nm）進(jìn)行θ-2θ掃描（5-80），通過(guò)Rietveld精修計(jì)算晶胞參數(shù)。

SEM-EDS聯(lián)用：場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（5kV加速電壓）觀(guān)測(cè)表面形貌特征，配合能譜儀進(jìn)行元素面分布分析。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T14634-2020長(zhǎng)余輝熒光粉試驗(yàn)方法

ISO18557:2017發(fā)光安全標(biāo)志材料性能要求與測(cè)試規(guī)程

ASTME2590-17熒光材料絕對(duì)量子產(chǎn)率標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

JISZ9107:2019蓄光式安全標(biāo)識(shí)板技術(shù)要求

EN60598-2-22:2014應(yīng)急照明用自發(fā)光系統(tǒng)特殊要求

IEC61347-2-11:2018LED驅(qū)動(dòng)用蓄能裝置測(cè)試規(guī)范

GB/T20145-2006燈和燈系統(tǒng)的光生物安全性

ISO4892-3:2016塑料實(shí)驗(yàn)室光源暴露試驗(yàn)方法

ASTMG154-16非金屬材料紫外線(xiàn)暴露試驗(yàn)規(guī)程

GB/T2423.17-2008電工電子產(chǎn)品鹽霧試驗(yàn)方法

檢測(cè)儀器

分光輻射亮度計(jì)：配備液氮制冷CCD陣列的OL756A型系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)10^-6cd/m級(jí)弱光測(cè)量能力。

瞬態(tài)熒光壽命分析儀：采用時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)技術(shù)（TCSPC），時(shí)間分辨率達(dá)50ps。

全自動(dòng)積分球系統(tǒng)：直徑2米的BaSO4涂層球體配合多通道光譜儀實(shí)現(xiàn)4π立體角光通量測(cè)量。

熱釋光劑量?jī)x：配備線(xiàn)性升溫裝置和PMT探測(cè)器，溫度控制精度0.5℃。

X射線(xiàn)衍射儀：RigakuSmartLab型高分辨衍射儀，配備HyPix-3000二維探測(cè)器。

環(huán)境試驗(yàn)箱：可編程溫濕度循環(huán)系統(tǒng)（-70℃~180℃，RH10%~98%）。

激光粒度分析儀：采用Mie散射原理測(cè)量0.02-2000μm粒徑分布。

原子吸收光譜儀：火焰/石墨爐雙模式設(shè)計(jì)，檢出限達(dá)ppb級(jí)。

三維表面輪廓儀：白光干涉技術(shù)實(shí)現(xiàn)0.1nm縱向分辨率表面形貌分析。

熱重-差示掃描量熱聯(lián)用儀：同步測(cè)定材料熱穩(wěn)定性與相變特征。

檢測(cè)流程

1、咨詢(xún)：提品資料(說(shuō)明書(shū)、規(guī)格書(shū)等)

2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求

3、填寫(xiě)檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門(mén)取樣/檢測(cè))

5、收到樣品，安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)

6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫(xiě)報(bào)告草件，確認(rèn)信息是否無(wú)誤

7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件

8、寄送報(bào)告原件