因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個人測試暫不接受委托，望見諒。

檢測項目

稀土總量測定、鐠釹配比分析、鏑鋱含量測定、鐵硼主相分析、氧含量檢測、碳硫雜質(zhì)測定、氯離子殘留量、重金屬元素篩查、微觀形貌觀測、晶粒尺寸測量、晶界相成分分析、密度測試、硬度測試、抗壓強(qiáng)度測定、磁能積(BH)max測試、剩磁Br檢測、矯頑力Hcb/Hcj測定、居里溫度Tc驗證、溫度系數(shù)α(Br)測試、磁滯回線測繪、電阻率測定、熱重分析(TGA)、差示掃描量熱(DSC)、X射線衍射(XRD)物相鑒定、振動樣品磁強(qiáng)計(VSM)測試、電感耦合等離子體(ICP)全譜分析、電子探針微區(qū)分析(EPMA)、掃描電鏡(SEM)表面觀測、能譜儀(EDS)元素分布測繪、透射電鏡(TEM)晶格結(jié)構(gòu)解析

檢測范圍

廢舊燒結(jié)釹鐵硼磁體邊角料、電鍍廢渣回收料、破碎分選中間產(chǎn)物、氫爆粉體原料、熔煉合金錠廢料、速凝薄片回收料、氣流磨粉體混合物、燒結(jié)爐膛殘留物、機(jī)械加工碎屑粉末、退磁報廢成品件、氧化腐蝕表層剝離物、粘結(jié)磁體廢料混合物、表面鍍層剝離碎片（鎳/銅/鋅）、高溫退火失效材料、輻照損傷廢棄磁材、酸洗處理中間產(chǎn)物、電解沉積回收料包覆物分解殘留物（樹脂/環(huán)氧）、粘結(jié)劑污染混合料包芯線加工余料

檢測方法

X射線熒光光譜法(XRF)用于快速測定主量元素組成；電感耦合等離子體質(zhì)譜法(ICP-MS)實現(xiàn)ppb級痕量元素定量；惰性氣體熔融紅外法測定氧氮氫氣體含量；激光粒度分析儀(LPSA)表征粉末粒徑分布；振動樣品磁強(qiáng)計(VSM)在0-3T磁場下測量本征磁性參數(shù)；掃描電子顯微鏡(SEM-EDS)聯(lián)用系統(tǒng)進(jìn)行微區(qū)形貌與成分同步分析；透射電子顯微鏡(TEM)解析納米級晶界相結(jié)構(gòu)；差熱-熱重聯(lián)用儀(TGA-DSC)評估材料熱穩(wěn)定性；四探針電阻率測試儀測量導(dǎo)電特性；洛氏硬度計(HRC)測試材料機(jī)械強(qiáng)度；阿基米德排水法測定體積密度；X射線衍射儀(XRD)Rietveld全譜擬合法定量物相組成

檢測標(biāo)準(zhǔn)

GB/T13560-2017燒結(jié)釹鐵硼永磁材料
GB/T8763-2020稀土金屬及其氧化物化學(xué)分析方法
GB/T20169-2015稀土永磁材料物理性能測試方法
ISO21748:2017稀土永磁材料化學(xué)分析方法通則
ASTMA977-19永磁材料直流磁性特性測試標(biāo)準(zhǔn)
IEC60404-5:2015磁性材料測量方法第五部分
JISC2505:2018永磁鐵試驗方法
GB/T6730.76-2016鐵礦石氧含量的測定
GB/T20170.1-2018稀土金屬及其化合物粒度分布測定
EN10276-1:2000黑色金屬材料的化學(xué)分析

檢測儀器

X射線熒光光譜儀(XRF)：配備Rh靶光源和硅漂移探測器(SDD)，實現(xiàn)B4C校正模式下Nd/Fe/B快速定量
場發(fā)射掃描電鏡(FE-SEM)：配置二次電子/背散射電子雙探頭系統(tǒng)，工作電壓0.5-30kV可調(diào)
振動樣品磁強(qiáng)計(VSM)：配備1.2T電磁鐵和液氮溫控系統(tǒng)，測量精度0.5%
電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP-OES)：采用徑向觀測模式降低基體干擾
惰性氣體熔融儀：配備脈沖加熱爐和紅外/熱導(dǎo)雙檢測器系統(tǒng)
激光粒度分析儀：采用Mie散射理論模型計算粒徑分布
綜合物性測量系統(tǒng)(PPMS)：實現(xiàn)1.9-400K溫區(qū)下的精密磁性測量
同步熱分析儀(STA)：同步采集TGA/DSC信號解析相變過程
四探針電阻率測試儀：配置自動壓力調(diào)節(jié)裝置保證接觸穩(wěn)定性
X射線衍射儀(XRD)：配備Cu靶光源和高速陣列探測器

檢測流程

1、咨詢：提品資料(說明書、規(guī)格書等)

2、確認(rèn)檢測用途及項目要求

3、填寫檢測申請表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)

5、收到樣品，安排費用后進(jìn)行樣品檢測

6、檢測出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫報告草件，確認(rèn)信息是否無誤

7、確認(rèn)完畢后出具報告正式件

8、寄送報告原件