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分析鑒定 / 研發(fā)檢測 -- 綜合性科研服務(wù)機(jī)構(gòu),助力企業(yè)研發(fā),提高產(chǎn)品質(zhì)量 -- 400-635-0567

中析研究所檢測中心

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中科光析科學(xué)技術(shù)研究所

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北京市豐臺區(qū)航豐路8號院1號樓1層121[可寄樣]

投訴建議:

010-82491398

報(bào)告問題解答:

010-8646-0567

檢測領(lǐng)域:

成分分析,配方還原,食品檢測,藥品檢測,化妝品檢測,環(huán)境檢測,性能檢測,耐熱性檢測,安全性能檢測,水質(zhì)檢測,氣體檢測,工業(yè)問題診斷,未知成分分析,塑料檢測,橡膠檢測,金屬元素檢測,礦石檢測,有毒有害檢測,土壤檢測,msds報(bào)告編寫等。

山東未知成分檢測

發(fā)布時(shí)間:2025-05-14

關(guān)鍵詞:山東未知成分檢測范圍,山東未知成分項(xiàng)檢測報(bào)價(jià),山東未知成分檢測機(jī)構(gòu)

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來源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所

文章簡介:

山東地區(qū)未知成分檢測通過系統(tǒng)化分析手段對樣品中的不明物質(zhì)進(jìn)行定性定量鑒定。重點(diǎn)涵蓋有機(jī)物、無機(jī)物及重金屬等污染物篩查,采用色譜-質(zhì)譜聯(lián)用、光譜分析等標(biāo)準(zhǔn)化方法,確保數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性和可溯源性。適用于工業(yè)品、環(huán)境介質(zhì)及食品藥品等多領(lǐng)域樣品分析。
點(diǎn)擊咨詢

因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個(gè)人測試暫不接受委托,望見諒。

檢測項(xiàng)目

未知成分檢測主要包含以下核心分析維度:

有機(jī)化合物鑒定:涵蓋揮發(fā)性有機(jī)物(VOCs)、半揮發(fā)性有機(jī)物(SVOCs)、多環(huán)芳烴(PAHs)等3000+種化合物數(shù)據(jù)庫比對

無機(jī)元素分析:包括重金屬(鉛、鎘、汞等)、稀土元素及過渡金屬的定性與定量測定

高分子材料表征:針對塑料、橡膠等高分子制品的單體組成、添加劑及降解產(chǎn)物解析

生物活性物質(zhì)篩查:涉及微生物代謝產(chǎn)物、植物提取物及動物源性成分的鑒別

納米材料識別:對粒徑分布、形貌特征及表面修飾劑進(jìn)行系統(tǒng)表征

檢測范圍

本項(xiàng)檢測服務(wù)覆蓋以下典型樣本類型:

工業(yè)制品類:電子元器件殘留物、金屬加工液組分、涂料固化劑副產(chǎn)物等

環(huán)境介質(zhì)類:土壤滲濾液未知污染物、大氣顆粒物組分、水體懸浮物等

食品藥品類:食品接觸材料遷移物、藥品降解雜質(zhì)、保健品非法添加物等

生物樣本類:細(xì)胞培養(yǎng)異常代謝物、組織切片染色殘留物等

文物考古類:古代器物表面沉積物、壁畫顏料成分分析等特殊樣本

檢測方法

依據(jù)國際通行標(biāo)準(zhǔn)建立三級分析方法體系:

初篩階段:

傅里葉變換紅外光譜(FTIR)進(jìn)行官能團(tuán)識別(ASTM E1252)

X射線熒光光譜(XRF)實(shí)現(xiàn)元素快速篩查(ISO 3497)

精確定量階段:

氣相色譜-三重四極桿質(zhì)譜聯(lián)用(GC-MS/MS)測定揮發(fā)性組分(GB/T 32461-2015)

電感耦合等離子體質(zhì)譜(ICP-MS)分析痕量金屬元素(HJ 700-2014)

結(jié)構(gòu)解析階段:

核磁共振波譜(NMR)進(jìn)行分子結(jié)構(gòu)確證(USP ?761?)

高分辨質(zhì)譜(HRMS)獲取精確分子量信息(HJ 834-2017)

檢測儀器

主要配置四類精密分析設(shè)備:

色譜質(zhì)譜系統(tǒng)組:

Thermo Scientific Orbitrap Exploris GC-HRMS系統(tǒng)(質(zhì)量精度<1ppm)

Agilent 8890-5977B GC-MS系統(tǒng)(EI/CI雙電離源)

元素分析系統(tǒng)組:

PerkinElmer NexION 2000 ICP-MS(檢出限達(dá)ppt級)

Rigaku ZSX Primus IV XRF光譜儀(多基體校正模式)

光譜解析系統(tǒng)組:

Bruker Vertex 80v FTIR光譜儀(4cm?1分辨率)

JEOL JNM-ECZ600R NMR波譜儀(600MHz超導(dǎo)磁體)

微觀表征系統(tǒng)組:

TESCAN MIRA4場發(fā)射掃描電鏡(1nm分辨率)

Malvern Zetasizer Nano ZSP粒徑分析儀(0.3nm-10μm量程)

檢測流程

1、咨詢:提品資料(說明書、規(guī)格書等)

2、確認(rèn)檢測用途及項(xiàng)目要求

3、填寫檢測申請表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)

5、收到樣品,安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測

6、檢測出相關(guān)數(shù)據(jù),編寫報(bào)告草件,確認(rèn)信息是否無誤

7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件

8、寄送報(bào)告原件

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